測量原理:
KJT-RAPS60ZT系列雷達物位計天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播,碰到被測介質表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離成正比。
由于電磁波的傳播速度極高，發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔很小（納秒量級）很難確認。
脈沖系列雷達物位計采用一種特殊相關解調技術，可以準確識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔，從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離。
特點:
由于采用了先進的微處理器和獨特EchoDiscovery 回波處理技術，雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
“虛假回波學習”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下，可正確地確認真實回波，獲得準確的測量結果。
多種過程連接方式及天線型式，使得KJT-RAPS60ZT系列雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質的測量等。采用脈沖工作方式，雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環(huán)境均無傷害。
雷達物位計采用了高頻段的發(fā)射頻率，因而具有：
—波束角小，能量集中，具有強抗干擾能力，大大提高了測量精度和可靠性；
—天線尺寸小，便于安裝和加裝防塵罩等天線防護裝置；
—測量盲區(qū)小，對于小罐測量也會取得良好的效果；
—波長短，對顆粒物質的料位測量依有良好效果。
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